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ARIES IC/测试座/老化座/插座 IC Test and Burn-In Socket


ARIES X55X系列通用ZIFDIP测试座

ARIES X55X系列高温通用ZIFDIP测试座

 
ARIESI X55X系列通用ZIFDIP测试座 ARIESI X55X系列通用ZIFDIP测试座
备注:ARIES 专精于产品定制或生产。除了在本页上的标出产品外,也可指定特别材料、规格和配套。


ARIES 测试座产品型录


24-3554-18 28-3554-18 32-3554-18 36-3554-18
40-3554-18 42-3554-18 44-3554-18 48-3554-18
A448-6554-10 A440-6554-14 A432-6554-10 A428-6554-10
A424-6554-10 HighFrequency(RF) PGAandOtherProduct Correct-A-Chip(Adaptors)
CableAssemblies ProgrammingDevices Display(Verti)Sockets DIP/SIPSockets&Headers
ZIFandTestSockets BGASocketsforText,ZIF&Burn-In 10015ZIFSOIC&TSOPSOCKETS44
1008-10012ZIFPLCCSOCKETS84 100-10007ZIFPLCCSOCKETS44、20、28、32、52、68&84
注:适配座/测试座均为易耗品,无保用


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