微电子与IT技术发展使大型与超大型集成电路、微处理器等得到广泛应用，尤其是数字逻辑电路。当一个数字电路或系统所实现的逻辑功能和无故障电路或系统所实现的逻辑
功能不同时，就表明这个电路或系统已出现故障。
数字电路或系统的故障一般可分为物理故障和逻辑故障。内部连线断开或短接、电路元件不良等造成物理故障。数字电路及数字系统内部控制逻辑不正确，称为逻辑故障。在
这些故障中不随时间改变的故障称为固定性故障或永久故障；时隐时现的故障称为间歇故障。数字电路及数字系统的故障诊断大部分局限于固定性逻辑故障。为了做好故障检测
和故障定位，进而排除故障，确保数字电路及系统工作正常，就必须对数字电路及系统进行测试，检验电路及系统的工作状况。要诊断数字电路故障必须要借助专用的仪器才能
解决，逻辑分析仪就是一种最有力的工具，它具有足够的输入通道、超前观测能力、多种触发方式、存储能力、多功能显示方式和比较功能等能力。
确定数字电路及系统中是否存在故障，进而判定故障的位置，为排除硬件和软件故障，提高系统性能提供所需信息，确保电路及系统的可靠性——这类测试称为数据域测试，
它有别于频域测试、时域测试、调制域测试和统计域测试。
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